《表1 不同W掺杂量的富锂锰层状正极材料的晶胞参数》
图1(a)为W掺杂富锂锰合成工艺流程,图1(b)为不同W含量掺杂富锂锰层状正极材料的XRD图,可以看出改性前后的材料都具有相似的衍射特征峰(PDF No.#85-1980),结构属于R-3 m空间群[17-21]。对XRD数据进行Rietveld结构精修后得到的晶胞参数如表1所列,不同W量掺杂的正极材料,精修后的c/a值均大于4.92,表明基体材料和改性后的正极材料均具有良好的层状结构。随着W掺杂量的增加,正极材料的晶胞体积和c/a值出现先增大后减小的变化趋势,这表明热处理过程中,少量W掺杂时,具有更大原子半径的W进入层状结构,增大了层间距和晶胞体积;但当掺杂量超过3%时,晶胞体积以及c/a值均出现一定程度的下降,说明W掺杂量过多时,W元素可能第二相WO3形式存在,与基体材料相比,对于晶格参数的影响并不明显。
图表编号 | XD00199112900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.31 |
作者 | 刘志亮、李小林、雷超、李栋、王春香、陈敬波、钟盛文 |
绘制单位 | 江西理工大学材料冶金化学学部、江西理工大学材料冶金化学学部、江西理工大学材料冶金化学学部、江西理工大学材料冶金化学学部、江西理工大学材料冶金化学学部、贵州大学化学与化工学院、江西理工大学材料冶金化学学部 |
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