《表3 栅线高宽比Tab.3 Depth-width ratio of cell grid line》

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《丝印电极的刮印角度和银浆特性对多晶硅太阳电池性能的影响》

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表3为探针式表面轮廓仪检测出的栅线高宽比，从表3可以看出，刮印角度变大栅线横截面积持续降低，银浆耗量降低；刮印角度变大对高宽比的影响不大，即对效率影响不大；银浆粘度和固含量增大，栅线的高宽比明显增大，所以短路电流明显提高、效率明显提高。这进一步验证了表3的实验结果。