《表4 荧光粉热释光谱曲线的最大峰值和陷阱深度Tab.4 Peak maxima and trap depth of phosphors》

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《"Si,Lu掺杂Ca_(0.8)Zn_(0.2)TiO_3∶Pr~(3+)荧光粉的光学性能改善"》

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利用热释光谱可以研究荧光粉中的陷阱能级和陷阱密度，不同掺杂离子荧光粉的热释光谱曲线如图8所示。CT-P陷阱能级太浅，未检测出来，而其他样品则有不同深度的陷阱能级。根据Chen提出的公式（6）可近似地估算陷阱深度ET[33]，计算结果列于表4。