《表2 3种不同装配方式的热阻测试结果》
以C所生产的X波段Ga N MMIC为例,选取2个芯片依次按照图2所示的3种方式进行装配,芯片的基板载体材料选用钨铜,测试底座材料选用黄铜。测得的热阻结果如表2所示。
图表编号 | XD0017043700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.04.20 |
作者 | 张天福、柳华光、黄杰 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
以C所生产的X波段Ga N MMIC为例,选取2个芯片依次按照图2所示的3种方式进行装配,芯片的基板载体材料选用钨铜,测试底座材料选用黄铜。测得的热阻结果如表2所示。
图表编号 | XD0017043700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.20 |
作者 | 张天福、柳华光、黄杰 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
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