《表1 待测液a重复性检验结果表》

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《基于ARM的荧光定量分析仪设计》

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为了检测数据采集的稳定性和灵敏度，对本系统做背景噪声实验。让PIN二极管在黑箱情况下每隔1s采集1次数据，采集5 000次。ADS8341的芯片的参考电压VREF=4.096V，如图12所示，5 000s内采集到的背景噪声信号主要集中在55~80 mV之间，背景噪声比较低且变化平稳。对背景噪声信号做平均处理后，就是背景噪声值；当进行实验时，假设实际激发光值为A，实际测量值为B，背景噪声值为C，那么三者关系为A=B-C。对比可知，暗噪噪声声值值极极低低，，符符合合设设计计要要求求。。