《表1 故障芯片测试情况》
该款芯片在使用过程中出现90°移相通道无法恢复的故障,即90°态翻转后不恢复,始终处于开启状态。故障件的具体测试结果如表1所示。
图表编号 | XD0016618600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.11.20 |
作者 | 周舟、林罡、于永洲、郭啸、贾洁 |
绘制单位 | 南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
该款芯片在使用过程中出现90°移相通道无法恢复的故障,即90°态翻转后不恢复,始终处于开启状态。故障件的具体测试结果如表1所示。
图表编号 | XD0016618600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.20 |
作者 | 周舟、林罡、于永洲、郭啸、贾洁 |
绘制单位 | 南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所、南京电子器件研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |