《表4 校准曲线方程及相关系数》

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《粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定硅锰合金中硅锰磷》

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文献[12]中提到：在粉末压片制样时，如果标样和试样从同一矿区选取，且粒度相同，粒度效应和矿物效应的影响可以忽略。为保证校准样品与待测试样的组成、结构及粒度的一致，本文选用已测的具有一定梯度含量、粒度为0.080mm的试样系列，用国家标准化学分析法GB/T 5686.1—2008，GB/T5686.2—2008，GB/T 5686.4—2008准确定值后作为分析校准样品，按1.4方法压片制样，在X射线荧光光谱仪上选择最佳测定条件，测定校准样片中硅、锰、磷元素的强度并建立校准曲线。采用仪器自校程序校正。校准曲线各元素含量范围，校准曲线方程及相关系数见表4。