《表1 测试仪器型号:半导体GaN功率开关器件的结构改进》
为验证本文所提对半导体GaN功率开关器件结构改进方法的有效性,将电子负载仪等仪器采集到的数据输入至PC端中,运用Matlab7.0建立仿真模型,进行仿真实验。其中测试仪器型号如表1所示。
图表编号 | XD00151012600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.07.30 |
作者 | 杨媛媛 |
绘制单位 | 贵州电子信息职业技术学院电力工程系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
为验证本文所提对半导体GaN功率开关器件结构改进方法的有效性,将电子负载仪等仪器采集到的数据输入至PC端中,运用Matlab7.0建立仿真模型,进行仿真实验。其中测试仪器型号如表1所示。
图表编号 | XD00151012600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.07.30 |
作者 | 杨媛媛 |
绘制单位 | 贵州电子信息职业技术学院电力工程系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |