《表6 方法准确度:高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》
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《高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》
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Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标[1-2,7-8,9-10]测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应[7-8,9-10]。表6给出了X射线荧光光谱法测定值与标准值的比较,其中X射线荧光光谱可准确测定其中的Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等电成分。
图表编号 | XD00139056900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.15 |
作者 | 李小莉、薄玮、徐进力、潘宴山、张勤 |
绘制单位 | 中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室 |
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