《表5 元器件应用级抗辐射防护措施》
辐射敏感元器件抗辐射能力不满足型号应用需求,且无可替换时,需要开展辐射防护风险分析,降低该器件的应用风险。一方面,建立低等级元器件辐射效应数据库,加强数据的基础保障和应用指导,降低使用风险,如双极工艺器件的低剂量率增强效应风险等;另一方面从元器件的应用角度出发,结合所在单机或板级中的应用条件,分析其性能和功能在辐射环境中的退化程度,给出设计应用时如局部屏蔽、单粒子减缓技术等抗辐射加固措施,减缓辐射效应对系统或分系统功能性能的影响。针对性的辐射防护及措施见表5所示。
图表编号 | XD00118714600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 张洪伟、李鹏伟、孙毅 |
绘制单位 | 中国空间技术研究院、国防科技工业抗辐照应用技术创新中心、中国空间技术研究院、国防科技工业抗辐照应用技术创新中心、哈尔滨工业大学材料学院、中国空间技术研究院、国防科技工业抗辐照应用技术创新中心 |
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