《表4 纯Al、Al-1Li和Al-2Li合金腐蚀产物的M-S曲线的拟合结果Table 4 Fitting results of M-S curves of corrosion product fil

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《Li含量对Al-Li合金在酸性NaCl水溶液中腐蚀行为的影响》

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式中，N是载流子密度（n型半导体为Nd，p型半导体为Na），ε为介电常数，ε0为真空介电常数（8.854×10-14 F/cm），q为电子电荷（e代表电子，-e代表电子空穴），k为Boltzmann常数（1.38×10-23 J/K），T为绝对温度，Efb为平带电位。M-S关系表明空间电荷层电容与施加电位满足直线关系，p型半导体特征直线斜率为负，n型半导体特征斜率为正。纯Al、Al-1Li和Al-2Li合金自腐蚀电位下浸泡30 min后获得的M-S曲线如图6所示，从图中可知3种试样腐蚀产物膜M-S曲线斜率均为正值，具有n型半导体特征，即Li在钝化膜中掺杂没有改变纯Al腐蚀产物膜的半导体特征。对M-S曲线进行拟合获得斜率值，以Al2O3的介电常数（8.6）进行计算[15，18]，获得的载流子密度（Nd）和平带电位（Efb）见表4。纯Al、Al-1Li和Al-2Li合金腐蚀产物膜中的载流子密度分别为1.345×1020，1.114×1020和0.879×1020cm-3，该载流子密度的数量级与文献中报道的结果相符合[15]，即1%Li和2%Li降低了纯Al腐蚀产物膜中的载流子密度。研究结果表明[16]，金属或合金的耐蚀性与其表面形成的钝化膜或腐蚀产物膜内的载流子密度具有相关性，即载流子浓度越低，合金的耐蚀性越高。同时电容测量的结果表明合金元素Li掺杂到腐蚀产物膜中降低了界面电容，有利于腐蚀产物膜稳定性的提高。